Espaço: Caracterização - Equipamentos
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Microscópio de Força Atômica
Nanosurf NaioAFM
O microscópio AFM Naio abrange uma variedade de técnicas de caracterização de superfícies, incluindo a microscopia de força atômica (AFM - Atomic Force Microscopy) e a microscopia de força magnética (MFM - Magnetic Force Microscopy). Opera nos modos: Static Force, Dynamic Force (Tapping Mode) e Phase Imaging.
